半导体测试解决方案供应商思达科技，发表新款应用在前沿晶圆级可靠性测试的集成平台—思达射手座Sagittarius-WLR。Sagittarius-WLR是为了满足前沿纳米技术的新器件可靠性验证的需求而开发。超过30个新开发或修改的测试演算法，以符合先进可靠性验证的要求，包括超快速NBTI/PBTI、HCI、GOI/TDDB、等温电迁移等。Sagittarius-WLR是运用在前沿技术节点(node)半导体器件可靠性验证，具备快速、预测与合格的解决方案中，最全方位的软件之一。
Sagittarius-WLR涵盖了大多数的关键可靠性测试要求，且具有并行多器件和多测试仪操作功能，减少验证时间。通过动态并行执行模式，用户可同时运作多个器件，以应力和器件并行测试，来降低验证时间。此外，多测试仪的作业模式，允许最多32个独立的虚拟测试仪，在一个硬件配置下运行测试。这样的灵活度，可支持所有类型的测试拆分和动态测试选择，以及并行自动化测试操作。
再则，Sagittarius-WLR设计了实时PASS/Fail判断和测试数据显示功能，让用户达成高效的可靠性测试。此系统可以更进一步运用在电气程序监控（PCM）、可靠性监控和可靠性验证。系统的数据将同时被存储在文件管理系统，作为原始数据，且以CSV或任何用户定义的格式存储在本地或云中，以便利用提供的软件工作，进行在线的数据分析。Sagittarius-WLR已被行业界选用，安装了数百套，并且都可以通过升级使用新功能，成功提升可靠性验证的效率和吞吐量。
思达科技测试事业群总经理简裕民，针对这款高价值的测试系统表示，
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思达科技数十年来一直致力于半导体可靠性测试的研发，并且持续提供增进量测效率和精度的解决方案。Sagittarius-WLR是最好的集成测试平台，有效提高可靠性验证效率，同时具有涵盖所有顶级晶圆制造厂安装的记录。
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今天是《半导体行业观察》为您分享的第3112内容，欢迎关注。
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